গবেষণায় নতুন দিগন্ত উন্মোচন করবে নোবিপ্রবির মাইক্রোস্কোপ ল্যাব

নোবিপ্রবির এসিসিই বিভাগে স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ ল্যাবের উদ্বোধন করা হয়েছে
নোবিপ্রবির এসিসিই বিভাগে স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ ল্যাবের উদ্বোধন করা হয়েছে  © টিডিসি ফটো

নোয়াখালী বিজ্ঞান ও প্রযুক্তি বিশ্ববিদ্যালয়ের (নোবিপ্রবি) ফলিত রসায়ন এবং রাসায়নিক প্রকৌশল বিভাগের চেয়ারম্যান অধ্যাপক ড. নেওয়াজ মোহাম্মদ বাহাদুর বলেছেন, নতুন উদ্বোধন হওয়া বিভাগেরমাইক্রোস্কোপ ল্যাব শুধু এসিসিই বিভাগ নয়; এটি পুরো বিশ্ববিদ্যালয়ের গবেষণায় নতুন দিগন্ত উন্মোচন করবে।

সোমবার (২০ জুন) বিশ্ববিদ্যালয়ের একাডেমিক ভবন ১নং এর দ্বিতীয় তলায় এসিসিই বিভাগে অত্যাধুনিক নতুন একটি স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ ল্যাবের উদ্বোধন শেষে তিনি এ কথা বলেন।

অধ্যাপক নেওয়াজ বাহাদুর বলেন, স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ হল এমন একটি ইলেকট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্র যেটি একটি বিশেষ বস্তুর ছবি তোলে ইলেকট্রন রশ্মি দিয়ে স্ক্যান করার পর ইলেকট্রনগুলো পরমাণুর সাথে ধাক্কা খেয়ে বিভিন্নরকমের সংকেতের জন্ম দেয়। যেগুলি বিশেষ অস্তিত্ব শনাক্তকারকের দ্বারা তথ্য সংগ্রহ করে সেই বস্তুর দ্বিমাত্রিক কাঠামোচিত্র ও তার অন্তর্নিহিত অণুর বিভিন্ন তথ্য আমাদের জানায়। ছবিটি তৈরি করা হয় ইলেকট্রন রশ্মির স্থান ও গৃহীত সংকেতের তথ্য থেকে।

আরও পড়ুন: রাজশাহী বিশ্ববিদ্যালয়ে গবেষণা সংসদের উদ্বোধন

ল্যাবের উদ্বোধনী অনুষ্ঠানে উপস্থিত ছিলেন বিশ্ববিদ্যালয়ের উপাচার্য অধ্যাপক ড. মো. দিদার উল আলম, উপ-উপাচার্য অধ্যাপক ড. আব্দুল বাকী, কোষাধ্যক্ষ অধ্যাপক ড.মো.ফারুক উদ্দীন,এপ্লাইড কেমিস্ট্রি এন্ড কেমিক্যাল ইঞ্জিনিয়ারিং বিভাগের চেয়ারম্যান অধ্যাপক ড.নেওয়াজ মোহাম্মদ বাহাদুর, বিভাগের শিক্ষক অধ্যাপক ড.মো.আশরাফুল আলমসহ বিভাগের অন্যান্য শিক্ষকবৃন্দ, শিক্ষার্থী এবং কর্মকর্তা-কর্মচারীবৃন্দ। 

অধ্যাপক নেওয়াজ বাহাদুর বলেন, ক্রমবেক্ষক ইলেকট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রের বিভেদনক্ষমতা (রেজোলিউশন)-১ ন্যানোমিটার পর্যন্ত হতে পারে। কিছু ক্ষেত্রে তার চেয়ে কম বিভেদনক্ষমতায় যাওয়া সম্ভব হয়েছে। পরীক্ষামূলক নমুনা (টেস্ট স্যাম্পল) যেকোনও তাপমাত্রায় বা যেকোনও পরিবেশে দেখা সম্ভব। সাধারণত ক্রমবেক্ষক ইলেকট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রে পরমাণু থেকে বেরিয়ে আসা গৌণ ইলেকট্রন রশ্মিগুলিকে সনাক্ত করা হয়ে থাকে।

তিনি আরও বলেন, ক্রমবেক্ষক ইলেকট্রন অণুবীক্ষণ যন্ত্রে পরীক্ষামূলক নমুনার চ্যাপ্টা পৃষ্ঠে কম গৌণ ইলেকট্রন ও বাঁকা পৃষ্ঠে তুলনামূলকভাবে বেশি গৌণ ইলেকট্রন শনাক্ত করা সম্ভব। এই গৌণ ইলেকট্রনগুলি তুলনামূলক রশ্মি সংগ্রহ করে দ্বিমাত্রিক কাঠামোচিত্রণ তৈরি করা সম্ভব।


সর্বশেষ সংবাদ