নাবিক ভর্তি পরীক্ষায় প্রক্সি-ডিভাইস ব্যবহার, ৯ পরীক্ষার্থীর বিরুদ্ধে মামলা

নৌপরিবহন মন্ত্রণালয়ের আওতাধীন নৌপরিবহন অধিদপ্তরের তত্ত্বাবধানে সমন্বিত নাবিক ভর্তি পরীক্ষা-২০২৬ (গ্রীষ্মকালীন সেশন) ঢাকা মহানগরীর তিনটি কেন্দ্রে অনুষ্ঠিত হয়েছে। পরীক্ষাকেন্দ্রসমূহ ছিল—শেরেবাংলা নগর সরকারি বালক উচ্চ বিদ্যালয়, শেরেবাংলা নগর সরকারি বালিকা উচ্চ বিদ্যালয় এবং আগারগাঁও আদর্শ উচ্চ বিদ্যালয়।

আজ শনিবার (২ মে) এই ভর্তি পরীক্ষা চলাকালে অসদুপায় অবলম্বনের অভিযোগে ৯ জন পরীক্ষার্থীকে আটক করা হয়েছে। পরে তাদের বিরুদ্ধে মামলা দায়ের করেছে কর্তৃপক্ষ।

নৌপরিবহন মন্ত্রণালয়ের এক বিজ্ঞপ্তিতে বলা হয়, শেরেবাংলা নগর সরকারি বালক উচ্চ বিদ্যালয় কেন্দ্রে ৫ জন পরীক্ষার্থী ইলেকট্রনিক ডিভাইস ব্যবহার করতে গিয়ে হাতেনাতে ধরা পড়ে। একই কেন্দ্রে আরও একজন পরীক্ষার্থী প্রক্সি পরীক্ষার্থী হিসেবে অংশগ্রহণের সময় হাতেনাতে ধরা হয়। এছাড়া শেরেবাংলা নগর সরকারি বালিকা উচ্চ বিদ্যালয় কেন্দ্রে আরও ৩ জন পরীক্ষার্থী ইলেকট্রনিক ডিভাইস ব্যবহার করতে গিয়ে ধরা পড়ে।

কর্তৃপক্ষ বলছে, এসব ঘটনা গুরুতর অনিয়ম ও শাস্তিযোগ্য অপরাধ। এজন্য সংশ্লিষ্ট সকলের বিরুদ্ধে শেরেবাংলা নগর থানায় নিয়মিত মামলা দায়ের করা হয়েছে।

নৌপরিবহন অধিদপ্তর ভবিষ্যতেও এ ধরনের অনিয়ম প্রতিরোধে জিরো টলারেন্স নীতি অনুসরণ করবে এবং স্বচ্ছ ও ন্যায়সংগত ভর্তি প্রক্রিয়া নিশ্চিত করতে কঠোর ব্যবস্থা গ্রহণ অব্যাহত রাখবে বলে বিজ্ঞপ্তিতে বলা হয়।